LQY離子遷移數(shù)測(cè)定裝置性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便

    用希托夫法測(cè)定CuSO4水溶解中Cu2+的遷移數(shù)是物理、化學(xué)中的一門重要實(shí)驗(yàn)，通過(guò)實(shí)驗(yàn)可以進(jìn)一步了解遷移數(shù)的含義，希托夫法測(cè)定遷移數(shù)的原理和方法，以及明確測(cè)定離子遷移數(shù)時(shí)與哪些因素有關(guān)。

    LQY離子遷移數(shù)測(cè)定裝置為實(shí)驗(yàn)提供了精良的硬件條件，該LQY離子遷移數(shù)測(cè)定裝置性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便，尤其適合教學(xué)實(shí)驗(yàn)。

    LQY離子遷移數(shù)測(cè)定裝置是評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測(cè)試方法，將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中，并在相鄰的兩個(gè)絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓（偏置電壓），在長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試條件下，檢測(cè)兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。實(shí)踐證明，將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時(shí)間，將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，這種間斷式的測(cè)試方法，會(huì)漏過(guò)很多實(shí)際發(fā)生的離子遷移。一方面因?yàn)閷CB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，PCB會(huì)變得干燥，從而導(dǎo)致絕緣電阻的上升，另一方面，當(dāng)PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中承受偏置電壓時(shí)，離子遷移可能隨時(shí)發(fā)生。

    有效的PCB離子遷移測(cè)試，需要將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測(cè)試設(shè)備上，以在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測(cè) PCB上的泄漏電流。